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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6055003	試験体上の欠陥を分類するためのコンピュータに実装された方法およびシステム	2016年12月27日
特許 6055768	焦点補正値汚染検査	2016年12月27日
特許 6047566	ウェハ検査	2016年12月21日
特許 6049628	高損傷閾値周波数変換システム	2016年12月21日
特許 6041865	ハイブリッドレチクル検査のための方法及びシステム	2016年12月14日
特許 6041878	マルチスポット表面走査検査システムの大粒子検出	2016年12月14日
特許 6042396	半導体のオーバーレイターゲットからオーバーレイを決定するシステム，その方法およびコンピュータプログラム	2016年12月14日
特許 6042442	ウェーハ幾何形状メトリックを用いるオーバーレイ及び半導体プロセス制御	2016年12月14日
特許 6038904	欠陥に関係する用途のための三次元表現の使用	2016年12月 7日
特許 6041461	対物光学系、試料を検査するための装置および方法	2016年12月 7日
特許 6032875	リソグラフィ・プロセス制御のための方法およびシステム	2016年11月30日
特許 6032913	リソグラフィ・プロセス制御のための方法およびシステム	2016年11月30日
特許 6026527	ルーバを含むバックグラウンド低減システム	2016年11月16日
特許 6022458	欠陥検査およびフォトルミネセンス測定システム	2016年11月 9日
特許 6023116	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法	2016年11月 9日

58 件中 1-15 件を表示

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6055003 6055768 6047566 6049628 6041865 6041878 6042396 6042442 6038904 6041461 6032875 6032913 6026527 6022458 6023116

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