特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2015年出願公開件数ランキング　　　第473位　71件（2014年：　0件）

　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第1019位　20件（2014年：　0件）

（ランキング更新日：2024年11月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2015-135978	試験体上の欠陥を分類するためのコンピュータに実装された方法およびシステム	2015年 7月27日
特表 2015-520939	ボロン層を有する裏面照光センサ	2015年 7月23日
特表 2015-520377	直交下層ダミーフィルを有するオーバレイターゲット	2015年 7月16日
特表 2015-519593	ＥＵＶレチクル検査ツールにおけるレチクルの取り扱い装置及び方法	2015年 7月 9日
特表 2015-519617	超紫外線レチクルの検査装置および方法	2015年 7月 9日
特開 2015-127708	試験体の測定または分析のためのシステムおよび方法	2015年 7月 9日
特表 2015-518662	半導体ウエハ加工における効率的な材料処理	2015年 7月 2日
特表 2015-516568	レチクルの劣化を検出するための反射マップおよび透過マップの使用	2015年 6月11日
特表 2015-516574	可変偏光ウェハ検査	2015年 6月11日
特開 2015-99148	ウエハの特性決定のための方法とシステム	2015年 5月28日
特表 2015-514984	スペクトル感度に基づいたモデル最適化方法	2015年 5月21日
特表 2015-514208	スペクトルルミネセンス測定のための方法および装置	2015年 5月18日
特表 2015-514236	グロー放電プラズマの陽光柱に基づきマスク及びウエハ検査システムの表面及び部品をクリーニングするためのシステム及び方法	2015年 5月18日
特表 2015-514311	自動検査半導体デバイスのレシピ生成のための方法、コンピュータシステムおよび装置	2015年 5月18日
特表 2015-514331	ＥＵＶレチクルのアクチニック検査のためのレチクル位置決めデバイスの構成	2015年 5月18日

73 件中 31-45 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2015-135978 2015-520939 2015-520377 2015-519593 2015-519617 2015-127708 2015-518662 2015-516568 2015-516574 2015-99148 2015-514984 2015-514208 2015-514236 2015-514311 2015-514331

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数