特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2021年出願公開件数ランキング　　　第394位　82件（2020年：第337位　101件）

　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第239位　120件（2020年：第314位　86件）

（ランキング更新日：2026年10月19日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2021-536680	制御された寸法を有する半導体ウェハフィーチャを製作するためのシステムおよび方法	2021年12月27日
特表 2021-536594	光学システム内の保護剤としての蒸気及び寿命延長装置	2021年12月27日
特開 2021-193683	電子源	2021年12月23日
特開 2021-193682	電子ビーム装置	2021年12月23日
特表 2021-536135	プロセス温度計測デバイス製造技術並びにその校正及びデータ補間方法	2021年12月23日
特表 2021-535595	二回折次数撮像を用いるオフ軸照明オーバレイ計測	2021年12月16日
特表 2021-535445	非対称収差の推定	2021年12月16日
特表 2021-533406	ランプハウス補正を備えるプラズマ源	2021年12月 2日
特開 2021-182162	デバイスの特性の予測方法及びシステム	2021年11月25日
特表 2021-532347	半導体検査における多モードの欠陥分類	2021年11月25日
特開 2021-182005	ワークピースの欠陥検出装置及び方法	2021年11月25日
特表 2021-531663	位相解明光学及びＸ線半導体計量	2021年11月18日
特表 2021-531630	複数通りの波長を用いる複数作動距離高さセンサ	2021年11月18日
特表 2021-530714	クロマティック共焦点エリアセンサ	2021年11月11日
特表 2021-530677	デュアル干渉法試料厚さ計	2021年11月11日

82 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2021-536680 2021-536594 2021-193683 2021-193682 2021-536135 2021-535595 2021-535445 2021-533406 2021-182162 2021-532347 2021-182005 2021-531663 2021-531630 2021-530714 2021-530677

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数