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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2019年 出願公開件数ランキング    第411位 92件 下降2018年:第363位 103件)

  2019年 特許取得件数ランキング    第331位 81件 上昇2018年:第358位 78件)

(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特表 2019-537745 メトロロジー測定に用いるためのプログラムされた欠陥を生成する方法およびシステム 2019年12月26日
特表 2019-537788 全測定不確かさの定量化および低減 2019年12月26日
特表 2019-537839 半導体用途向けに構成された深層学習モデルのための診断システムおよび方法 2019年12月26日
特表 2019-537228 電子ビームシステムにおける収差補正方法及びシステム 2019年12月19日
特表 2019-537263 貼り合わせウエハの計測 2019年12月19日
特表 2019-536057 X線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測 2019年12月12日
特開 2019-212915 出力パルス光の生成方法 2019年12月12日
特表 2019-535023 光近接場計測 2019年12月 5日
特表 2019-535138 半導体ウエハ検査のための欠陥マーキング 2019年12月 5日
特表 2019-535143 半導体ウェハ検査用三次元イメージング 2019年12月 5日
特開 2019-208039 垂直スタックメモリにおいて欠陥深さを決定するための方法及びシステム 2019年12月 5日
特表 2019-534482 一体型メトロロジツールを有する機能性が強化されたリソグラフィシステム 2019年11月28日
特開 2019-200212 半導体試料内の瑕疵を検出又は精査するシステム 2019年11月21日
特表 2019-533312 パターニングされたウェハの特性評価のためのハイブリッド計量 2019年11月14日
特開 2019-197733 試料を検査する方法 2019年11月14日

92 件中 1-15 件を表示

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2019-537745 2019-537788 2019-537839 2019-537228 2019-537263 2019-536057 2019-212915 2019-535023 2019-535138 2019-535143 2019-208039 2019-534482 2019-200212 2019-533312 2019-197733

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