特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2018年出願公開件数ランキング　　　第363位　103件（2017年：第422位　98件）

　■　2018年特許取得件数ランキング　　　第358位　78件（2017年：第472位　54件）

（ランキング更新日：2026年2月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2018-538533	偏光ターゲットおよび偏光照明を用いた回折光の振幅および位相の制御	2018年12月27日
特開 2018-206779	電子ビーム検査中に試料を適応的に走査する方法及びシステム	2018年12月27日
特表 2018-536862	効率的な計測のために信号を高速自動判定するシステム、方法、およびコンピュータプログラム製品	2018年12月13日
特開 2018-198427	インターポーザベースの画像センシングデバイス、及び、検査システム	2018年12月13日
特表 2018-536265	マルチビームツールを用いた後方散乱電子（ＢＳＥ）イメージング	2018年12月 6日
特表 2018-536275	範囲に基づくリアルタイム走査電子顕微鏡非可視ビナー	2018年12月 6日
特開 2018-195839	欠陥特定情報を用いるウェハ上の欠陥の検出	2018年12月 6日
特表 2018-535426	ＶＵＶ光学素子の非接触サーマル測定	2018年11月29日
特表 2018-535560	分光ビームプロファイルオーバーレイ計測	2018年11月29日
特表 2018-534758	画像を用いたモデル依拠計量	2018年11月22日
特表 2018-533748	単一画像検出	2018年11月15日
特開 2018-179998	角度分解反射率測定における走査および回折の光計測からのアルゴリズム的除去	2018年11月15日
特表 2018-533188	マルチビーム走査型顕微鏡システムの焦点調整方法及びシステム	2018年11月 8日
特表 2018-532139	ウエハレベル欠陥の転写性を予測する装置および方法	2018年11月 1日
特表 2018-531487	レーザ維持プラズマ光源における無電極プラズマ点火のためのシステムおよび方法	2018年10月25日

103 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2018-538533 2018-206779 2018-536862 2018-198427 2018-536265 2018-536275 2018-195839 2018-535426 2018-535560 2018-534758 2018-533748 2018-179998 2018-533188 2018-532139 2018-531487

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数