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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第363位 103件 (2017年:第422位 98件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第358位 78件 (2017年:第472位 54件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2018-538533 | 偏光ターゲットおよび偏光照明を用いた回折光の振幅および位相の制御 | 2018年12月27日 | |
特開 2018-206779 | 電子ビーム検査中に試料を適応的に走査する方法及びシステム | 2018年12月27日 | |
特表 2018-536862 | 効率的な計測のために信号を高速自動判定するシステム、方法、およびコンピュータプログラム製品 | 2018年12月13日 | |
特開 2018-198427 | インターポーザベースの画像センシングデバイス、及び、検査システム | 2018年12月13日 | |
特表 2018-536265 | マルチビームツールを用いた後方散乱電子(BSE)イメージング | 2018年12月 6日 | |
特表 2018-536275 | 範囲に基づくリアルタイム走査電子顕微鏡非可視ビナー | 2018年12月 6日 | |
特開 2018-195839 | 欠陥特定情報を用いるウェハ上の欠陥の検出 | 2018年12月 6日 | |
特表 2018-535426 | VUV光学素子の非接触サーマル測定 | 2018年11月29日 | |
特表 2018-535560 | 分光ビームプロファイルオーバーレイ計測 | 2018年11月29日 | |
特表 2018-534758 | 画像を用いたモデル依拠計量 | 2018年11月22日 | |
特表 2018-533748 | 単一画像検出 | 2018年11月15日 | |
特開 2018-179998 | 角度分解反射率測定における走査および回折の光計測からのアルゴリズム的除去 | 2018年11月15日 | |
特表 2018-533188 | マルチビーム走査型顕微鏡システムの焦点調整方法及びシステム | 2018年11月 8日 | |
特表 2018-532139 | ウエハレベル欠陥の転写性を予測する装置および方法 | 2018年11月 1日 | |
特表 2018-531487 | レーザ維持プラズマ光源における無電極プラズマ点火のためのシステムおよび方法 | 2018年10月25日 |
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2018-538533 2018-206779 2018-536862 2018-198427 2018-536265 2018-536275 2018-195839 2018-535426 2018-535560 2018-534758 2018-533748 2018-179998 2018-533188 2018-532139 2018-531487
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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