特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第364位　101件（2019年：第411位　92件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第314位　86件（2019年：第331位　81件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-205283	高効率レーザー維持プラズマシステム	2020年12月24日
特表 2020-537125	高反射積層膜上の高吸光膜層の光学的測定	2020年12月17日
特表 2020-537287	電子ビーム生成および測定	2020年12月17日
特表 2020-537288	シリコン電子エミッタデザイン	2020年12月17日
特表 2020-537289	光電陰極設計、および光電陰極を使用して電子ビームを生成する方法	2020年12月17日
特表 2020-537295	ルテニウムで被包された光電陰極電子放出器	2020年12月17日
特表 2020-537345	接地またはバイアスされたチャネルストップ接点を備えたイメージセンサ	2020年12月17日
特開 2020-201293	測定方法	2020年12月17日
特開 2020-198306	光維持プラズマ形成によって広帯域光を生成する光学システム	2020年12月10日
特表 2020-535391	Ｘ線依拠計量用高輝度クリーンＸ線源	2020年12月 3日
特表 2020-535445	計測ビーム安定化のためのシステムおよび方法	2020年12月 3日
特表 2020-535658	非対称構造の検出及び寸法計測	2020年12月 3日
特開 2020-191458	測定ウェハ装置	2020年11月26日
特表 2020-532122	透明又は半透明ウェハを対象にした欠陥検出	2020年11月 5日
特表 2020-532127	薄膜オン格子及びバンドギャップオン格子の計測	2020年11月 5日

101 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2020-205283 2020-537125 2020-537287 2020-537288 2020-537289 2020-537295 2020-537345 2020-201293 2020-198306 2020-535391 2020-535445 2020-535658 2020-191458 2020-532122 2020-532127

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数