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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2015-513703	処理済像を使用するレチクル検査時の選択的感度のための細線の検出	2015年 5月14日
特表 2015-513813	高速画像化のための一体化されたマルチチャネルアナログフロントエンド及びデジタイザ	2015年 5月14日
特開 2015-92173	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法及びシステム	2015年 5月14日
特表 2015-513111	サンプル検査とレビューのためのシステム及び方法	2015年 4月30日
特表 2015-512051	システム的欠陥フィルターによるレチクル欠陥検査	2015年 4月23日
特表 2015-512056	立体拡張された焦点深度	2015年 4月23日
特表 2015-511310	ウエハ検査のためのセグメント化	2015年 4月16日
特表 2015-511401	ウェハ検査用に拡張された欠陥のサイジング範囲	2015年 4月16日
特開 2015-72489	デザイナ・インテント・データを使用するウェハとレチクルの検査の方法およびシステム	2015年 4月16日
特表 2015-511011	ウェハおよびレチクル検査システムならびに照明瞳配置を選択するための方法	2015年 4月13日
特表 2015-511061	広範なダイナミックレンジを備えた光電子増倍管	2015年 4月13日
特表 2015-511069	柱で支持されたマイクロ電子レンズアレイ	2015年 4月13日
特表 2015-510149	レチクルの時間変化強度マップの生成	2015年 4月 2日
特開 2015-62034	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法及びシステム	2015年 4月 2日
特表 2015-509591	磁場向上要素を備えたターゲットを使用した光計測	2015年 3月30日

73 件中 46-60 件を表示

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2015-513703 2015-513813 2015-92173 2015-513111 2015-512051 2015-512056 2015-511310 2015-511401 2015-72489 2015-511011 2015-511061 2015-511069 2015-510149 2015-62034 2015-509591

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