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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2017-539076	構造情報を用いた欠陥検出	2017年12月28日
特表 2017-539078	製造プロセスラインに沿ったウェハの放射線および温度暴露を測定するための方法およびシステム	2017年12月28日
特開 2017-227934	散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法	2017年12月28日
特開 2017-228545	レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル	2017年12月28日
特開 2017-228805	ボロン層を有する裏面照光センサ	2017年12月28日
特表 2017-538113	光コンバイナ／スプリッタを有する二波長二重干渉計	2017年12月21日
特表 2017-538117	ワークピース欠陥検出用の装置、方法及びコンピュータプログラム製品	2017年12月21日
特表 2017-538292	ベロウズによる歪みウェハのチャッキング	2017年12月21日
特表 2017-537317	ランドスケープの解析および利用	2017年12月14日
特開 2017-219851	薄膜スペクトル純度フィルタコーティングとともに画像センサを使用するＥＵＶ化学線レチクル検査システム	2017年12月14日
特開 2017-219870	安定性が向上されたＣＷ　ＤＵＶレーザー	2017年12月14日
特表 2017-536533	暗視野におけるＴＤＩセンサシステム	2017年12月 7日
特表 2017-536708	多様化と欠陥発見のためのダイナミック・ビニング	2017年12月 7日
特開 2017-216466	ビット不良および仮想検査を用いたウェハ検査プロセスの生成	2017年12月 7日
特表 2017-535772	デジタル整合フィルタによる強化欠陥検出のためのシステムおよび方法	2017年11月30日

98 件中 1-15 件を表示

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2017-539076 2017-539078 2017-227934 2017-228545 2017-228805 2017-538113 2017-538117 2017-538292 2017-537317 2017-219851 2017-219870 2017-536533 2017-536708 2017-216466 2017-535772

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