特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第422位　98件（2016年：第444位　78件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第472位　54件（2016年：第483位　58件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2017-539076	構造情報を用いた欠陥検出	2017年12月28日
特表 2017-539078	製造プロセスラインに沿ったウェハの放射線および温度暴露を測定するための方法およびシステム	2017年12月28日
特開 2017-227934	散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法	2017年12月28日
特開 2017-228545	レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル	2017年12月28日
特開 2017-228805	ボロン層を有する裏面照光センサ	2017年12月28日
特表 2017-538113	光コンバイナ／スプリッタを有する二波長二重干渉計	2017年12月21日
特表 2017-538117	ワークピース欠陥検出用の装置、方法及びコンピュータプログラム製品	2017年12月21日
特表 2017-538292	ベロウズによる歪みウェハのチャッキング	2017年12月21日
特表 2017-537317	ランドスケープの解析および利用	2017年12月14日
特開 2017-219851	薄膜スペクトル純度フィルタコーティングとともに画像センサを使用するＥＵＶ化学線レチクル検査システム	2017年12月14日
特開 2017-219870	安定性が向上されたＣＷ　ＤＵＶレーザー	2017年12月14日
特表 2017-536533	暗視野におけるＴＤＩセンサシステム	2017年12月 7日
特表 2017-536708	多様化と欠陥発見のためのダイナミック・ビニング	2017年12月 7日
特開 2017-216466	ビット不良および仮想検査を用いたウェハ検査プロセスの生成	2017年12月 7日
特表 2017-535772	デジタル整合フィルタによる強化欠陥検出のためのシステムおよび方法	2017年11月30日

98 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2017-539076 2017-539078 2017-227934 2017-228545 2017-228805 2017-538113 2017-538117 2017-538292 2017-537317 2017-219851 2017-219870 2017-536533 2017-536708 2017-216466 2017-535772

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数