特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2022年出願公開件数ランキング　　　第296位　118件（2021年：第394位　82件）

　■　2022年特許取得件数ランキング　　　第335位　90件（2021年：第239位　120件）

（ランキング更新日：2026年10月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年 2025年 2026年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2022-553639	極端紫外線パターンマスクの印刷可能な欠陥を減少させるためのシステムと方法	2022年12月26日
特表 2022-553636	フォトマスク検査における焦点マップ生成のための広帯域光干渉法	2022年12月26日
特表 2022-552631	走査モードおよび静止モードにおける高感度の光学計測	2022年12月19日
特表 2022-552191	計測のための信号－領域適応	2022年12月15日
特開 2022-186764	試料の欠陥検出及び光ルミネセンス測定のためのシステム及び方法	2022年12月15日
特表 2022-551419	プラズモニック光電陰極放出器	2022年12月 9日
特開 2022-183309	ウエハ検査システム及び装置	2022年12月 8日
特開 2022-183203	傾斜周期構造を有する計測ターゲット及び方法	2022年12月 8日
特開 2022-179533	ダイ・ダイ検査用適応性ケアエリア	2022年12月 2日
特表 2022-550323	光変調式電子源	2022年12月 1日
特表 2022-549283	レーザ維持プラズマ照射源用の回転ランプ	2022年11月24日
特開 2022-173222	高空間分解能を有するＸ線ビームの特性評価のための方法及びシステム	2022年11月18日
特表 2022-548163	イメージングベースのオーバレイ測定の品質指標として高調波検出率を適用するためのシステムと方法	2022年11月16日
特表 2022-547528	モアレ要素及び回転対称配列を用いるイメージングオーバレイターゲット	2022年11月14日
特表 2022-546849	オーバレイ計測用格子ターゲット構造の暗視野イメージング	2022年11月 9日

118 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2022-553639 2022-553636 2022-552631 2022-552191 2022-186764 2022-551419 2022-183309 2022-183203 2022-179533 2022-550323 2022-549283 2022-173222 2022-548163 2022-547528 2022-546849

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数