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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2022-553639	極端紫外線パターンマスクの印刷可能な欠陥を減少させるためのシステムと方法	2022年12月26日
特表 2022-553636	フォトマスク検査における焦点マップ生成のための広帯域光干渉法	2022年12月26日
特表 2022-552631	走査モードおよび静止モードにおける高感度の光学計測	2022年12月19日
特表 2022-552191	計測のための信号－領域適応	2022年12月15日
特開 2022-186764	試料の欠陥検出及び光ルミネセンス測定のためのシステム及び方法	2022年12月15日
特表 2022-551419	プラズモニック光電陰極放出器	2022年12月 9日
特開 2022-183309	ウエハ検査システム及び装置	2022年12月 8日
特開 2022-183203	傾斜周期構造を有する計測ターゲット及び方法	2022年12月 8日
特開 2022-179533	ダイ・ダイ検査用適応性ケアエリア	2022年12月 2日
特表 2022-550323	光変調式電子源	2022年12月 1日
特表 2022-549283	レーザ維持プラズマ照射源用の回転ランプ	2022年11月24日
特開 2022-173222	高空間分解能を有するＸ線ビームの特性評価のための方法及びシステム	2022年11月18日
特表 2022-548163	イメージングベースのオーバレイ測定の品質指標として高調波検出率を適用するためのシステムと方法	2022年11月16日
特表 2022-547528	モアレ要素及び回転対称配列を用いるイメージングオーバレイターゲット	2022年11月14日
特表 2022-546849	オーバレイ計測用格子ターゲット構造の暗視野イメージング	2022年11月 9日

118 件中 1-15 件を表示

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2022-553639 2022-553636 2022-552631 2022-552191 2022-186764 2022-551419 2022-183309 2022-183203 2022-179533 2022-550323 2022-549283 2022-173222 2022-548163 2022-547528 2022-546849

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