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ケーエルエー−テンカー コーポレイション
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第424位 82件
（
2020年：第364位 101件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第239位 120件
（
2020年：第314位 86件）
（ランキング更新日：2024年11月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特表 2021-503181 | 先進的機械学習技術を通じた計測正確度の自動最適化 | 2021年 2月 4日 | |
| 特表 2021-501886 | 視野サイズ削減による不要漏洩光低減 | 2021年 1月21日 | |
| 特表 2021-501469 | 極端に反ったウェハ用の基板ハンドリング装置 | 2021年 1月14日 | |
| 特表 2021-500702 | 半導体計測用の液体金属回転式アノードＸ線源 | 2021年 1月 7日 | |
| 特表 2021-500740 | 大オフセットダイ・ダイ検査用複数段階画像整列方法 | 2021年 1月 7日 | |
| 特表 2021-500742 | ダイ・ダイ検査用適応性ケアエリア | 2021年 1月 7日 | |
| 特開 2021-2531 | 光電子増倍管及びその製造方法 | 2021年 1月 7日 |
82 件中 76-82 件を表示
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2021-503181 2021-501886 2021-501469 2021-500702 2021-500740 2021-500742 2021-2531
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