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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2021-517711	光陰極照射検査のためのシステム及び方法	2021年 7月26日
特開 2021-103311	モデルベースの限界寸法測定の方法およびシステム	2021年 7月15日
特開 2021-101194	照明システム、照明システムを有する検査ツール、および照明システムを作動させる方法	2021年 7月 8日
特開 2021-101198	光計測において照明を提供するためのシステム	2021年 7月 8日
特表 2021-516366	オーバレイ及びエッジ配置誤差の計量及び制御	2021年 7月 1日
特表 2021-516448	三次元半導体構造の可視化	2021年 7月 1日
特開 2021-99510	計測ターゲット、計測モジュール、及び計測方法	2021年 7月 1日
特表 2021-515993	プロセス誘起逸脱特性評価	2021年 6月24日
特表 2021-515232	荷電粒子ビーム計測システムの帯電効果と放射線損傷を最小化する走査戦略	2021年 6月17日
特開 2021-90064	画像を用いたモデル依拠計量システム及び方法	2021年 6月10日
特表 2021-514057	サンプル表面への斜入射角での検査光整形	2021年 6月 3日
特開 2021-81446	物体の表面の光学的三次元トポグラフィ計測システム	2021年 5月27日
特開 2021-82606	電子ビーム画像化装置及び方法	2021年 5月27日
特表 2021-513204	複数の電子ビームを発生させる光電陰極エミッタシステム	2021年 5月20日
特表 2021-511509	二次元ナノインデンテーション装置及び方法	2021年 5月 6日

82 件中 46-60 件を表示

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2021-517711 2021-103311 2021-101194 2021-101198 2021-516366 2021-516448 2021-99510 2021-515993 2021-515232 2021-90064 2021-514057 2021-81446 2021-82606 2021-513204 2021-511509

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