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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2026-531903	画像アライメントのための定量的線形独立ベクトルベースの方法（ＱＬＩＶＢＭ）	2026年 9月25日
特表 2026-531766	局所変動検出のための空間変動型分光計測	2026年 9月24日
特表 2026-531731	工程条件測定装置の製造および実装方法	2026年 9月24日
特表 2026-531548	スペクトル角度計測	2026年 9月17日
特表 2026-531539	四硼酸ストロンチウム結晶の成長	2026年 9月17日
特表 2026-531529	効率的なＸ線スキャトロメトリ測定のためのフォワードライブラリベースのシーディング	2026年 9月17日
特表 2026-531167	検査ツールおよびその他のツールにおける自律的モード選択のためのレコメンダーシステムおよび方法	2026年 9月15日
特表 2026-530774	半導体計測のための入射角および方位角分解分光エリプソメトリ	2026年 9月10日
特表 2026-530392	ＤＲＡＭ向けの堅牢な画像対デザインアライメント	2026年 9月 8日
特表 2026-529744	半導体構造のモデルベース計測向けの柔軟な計測モデル	2026年 9月 2日
特開 2026-139737	センサ、撮像システム、およびセンサを形成する方法	2026年 9月 1日
特表 2026-529264	高速抵抗ゲートセンサに対するバイアス印加及び読み出し方法	2026年 8月28日
特表 2026-528206	継続時間ベースのサンプル経路調整のためのシステムおよび方法	2026年 8月20日
特表 2026-527864	動的収差補正システム及び方法	2026年 8月19日
特表 2026-527770	デュアル周波数コム撮像分光エリプソメータ	2026年 8月17日

101 件中 16-30 件を表示

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2026-531903 2026-531766 2026-531731 2026-531548 2026-531539 2026-531529 2026-531167 2026-530774 2026-530392 2026-529744 2026-139737 2026-529264 2026-528206 2026-527864 2026-527770

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