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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2024年 出願公開件数ランキング    第311位 105件 上昇2023年:第332位 104件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第286位 108件 上昇2023年:第345位 92件)

(ランキング更新日:2025年1月8日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特表 2024-546548 4点傾斜整列ウェハチャック 2024年12月26日
特開 2024-177408 設定可能焦点オフセットによって試料表面を追跡するための自動焦点調節システム 2024年12月19日
特開 2024-175033 透過型小角X線散乱計量システム及び方法 2024年12月17日
特表 2024-545835 複数の空間周波数を有するオーバレイターゲットを使用した走査オーバレイ計測 2024年12月13日
特表 2024-544813 瞳偏光フィルタリングのための波長板 2024年12月 5日
特表 2024-542908 対向櫛型非線形結晶グレーティングを用いる周波数変換 2024年11月19日
特表 2024-542909 回折に基づく重ね合わせ誤差計測の改良された目標 2024年11月19日
特表 2024-542340 周波数変換に四硼酸ストロンチウムを用いる深紫外レーザ 2024年11月15日
特表 2024-542341 モノリシック光学リターダ 2024年11月15日
特開 2024-159775 特性評価システム 2024年11月 8日
特表 2024-539805 半導体製造のための連続機械学習モデルトレーニング 2024年10月31日
特開 2024-153787 非線形光学結晶の不活性化方法 2024年10月29日
特表 2024-539530 電磁コイルの均一な冷却のためのシステムおよび方法 2024年10月29日
特表 2024-538857 並列散乱計測オーバーレイ計測 2024年10月24日
特表 2024-538473 荷電粒子ツールのためのバンドパス荷電粒子エネルギフィルタリング検出器 2024年10月23日

105 件中 1-15 件を表示

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2024-546548 2024-177408 2024-175033 2024-545835 2024-544813 2024-542908 2024-542909 2024-542340 2024-542341 2024-159775 2024-539805 2024-153787 2024-539530 2024-538857 2024-538473

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