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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第272位 151件
(2018年:第314位 124件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第255位 108件
(2018年:第281位 102件)
(ランキング更新日:2025年2月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2019-529971 | 補正を導き出すための方法及び装置、構造の特性を決定するための方法及び装置、デバイス製造方法 | 2019年10月17日 | |
特表 2019-529977 | 極端紫外光源におけるターゲット軌道計測 | 2019年10月17日 | |
特表 2019-529978 | デバイスを製造するリソグラフィ装置及び方法 | 2019年10月17日 | |
特表 2019-529982 | リソグラフィ装置 | 2019年10月17日 | |
特表 2019-529986 | 荷電粒子マルチビームレットリソグラフィーシステムを使用し、一意的チップを製作するための方法及びシステム | 2019年10月17日 | |
特表 2019-529988 | 構造の特性を決定する方法、検査装置、及びデバイス、製造方法 | 2019年10月17日 | |
特表 2019-530207 | 処理装置をモニタするための方法及びシステム | 2019年10月17日 | |
特開 2019-179273 | パターニングデバイス冷却装置 | 2019年10月17日 | |
特開 2019-174851 | 極紫外光源 | 2019年10月10日 | |
特表 2019-527918 | 電子エミッタ及びそれを製作する方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-168703 | 相互レシピ整合性に基づくレシピ選択 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-169990 | シリアルナンバーを有するセキュアチップ | 2019年10月 3日 | |
特表 2019-527357 | 干渉計における周期誤差の測定および校正の手順 | 2019年 9月26日 | |
特開 2019-164364 | メトロロジ方法及び装置、コンピュータプログラム、並びにリソグラフィシステム | 2019年 9月26日 | |
特表 2019-526826 | 波面の可変コレクタ | 2019年 9月19日 |
157 件中 31-45 件を表示
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2019-529971 2019-529977 2019-529978 2019-529982 2019-529986 2019-529988 2019-530207 2019-179273 2019-174851 2019-527918 2019-168703 2019-169990 2019-527357 2019-164364 2019-526826
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
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