ホーム > 特許ランキング > 日新イオン機器株式会社 > 2019年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(日新イオン機器株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2019年 出願公開件数ランキング 第1406位 18件
(2018年:第1925位 11件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第1635位 10件
(2018年:第1497位 12件)
(ランキング更新日:2025年6月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2019-537816 | イオン源 | 2019年12月26日 | |
特開 2019-212598 | イオンビーム照射装置 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-200975 | イオン源 | 2019年11月21日 | |
特開 2019-186104 | イオン源、イオンビーム照射装置及びイオン源の運転方法 | 2019年10月24日 | |
特開 2019-169327 | イオン源、イオンビーム照射装置 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-145773 | 半導体素子を製造する方法及びイオン注入装置 | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-139950 | イオン源、イオン注入装置 | 2019年 8月22日 | |
特開 2019-96459 | フラットパネルディスプレイ製造装置 | 2019年 6月20日 | |
特開 2019-67488 | イオン源およびイオン注入装置 | 2019年 4月25日 | |
特開 2019-61858 | イオン源、イオン源の運転方法 | 2019年 4月18日 | |
特開 2019-62080 | 半導体製造方法 | 2019年 4月18日 | |
特開 2019-57385 | イオン源支持台 | 2019年 4月11日 | |
特開 2019-46627 | イオンビーム照射装置 | 2019年 3月22日 | |
特開 2019-47038 | パーティクル診断方法及びパーティクル診断装置 | 2019年 3月22日 | |
特開 2019-36478 | イオン源 | 2019年 3月 7日 |
19 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2019-537816 2019-212598 2019-200975 2019-186104 2019-169327 2019-145773 2019-139950 2019-96459 2019-67488 2019-61858 2019-62080 2019-57385 2019-46627 2019-47038 2019-36478
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日新イオン機器株式会社の知財の動向チェックに便利です。
6月5日(木) -
6月6日(金) -
6月5日(木) -
6月10日(火) -
6月10日(火) -
6月11日(水) -
6月11日(水) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月10日(火) -
福岡市博多区博多駅前1-23-2-5F-B 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都外神田4-14-2 東京タイムズタワー2703号室 特許・実用新案 鑑定
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定