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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2021年3月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5806769 | 分析方法、分注方法および昇温方法 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5806942 | 荷電粒子線装置及び演算装置 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5808582 | 自動分析装置 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5808587 | 検測方法及び装置 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5808697 | ドライエッチング装置及びドライエッチング方法 | 2015年11月10日 | |
| 特許 5805259 | 自動分析装置 | 2015年11月 4日 | |
| 特許 5800757 | プラズマ処理装置 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5800944 | 検体検査自動化システム | 2015年10月28日 | |
| 特許 5801334 | 核酸増幅装置及びそれを用いた核酸検査装置 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5801913 | イオンビーム装置 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5802454 | プラズマ処理方法 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5802560 | 検測車動揺補正方法及び装置、並びに検測方法及び装置 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5802566 | 質量分析装置 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5796080 | 自動分析装置 | 2015年10月21日 | |
| 特許 5797884 | 光量検出方法及びその装置 | 2015年10月21日 |
288 件中 46-60 件を表示
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5806769 5806942 5808582 5808587 5808697 5805259 5800757 5800944 5801334 5801913 5802454 5802560 5802566 5796080 5797884
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