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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
(2014年:第59位 659件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
(2014年:第54位 625件)
(ランキング更新日:2021年3月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5783953 | パターン評価装置およびパターン評価方法 | 2015年 9月24日 | |
特許 5784796 | 表面検査装置およびその方法 | 2015年 9月24日 | |
特許 5777967 | 荷電粒子線装置及び計測方法 | 2015年 9月16日 | |
特許 5777984 | 多極子測定装置 | 2015年 9月16日 | |
特許 5778053 | 質量分析装置及び質量分析装置の調整方法 | 2015年 9月16日 | |
特許 5778777 | 検体検査自動化システム | 2015年 9月16日 | |
特許 5779482 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2015年 9月16日 | |
特許 5780761 | 光度計を備えた分析システム | 2015年 9月16日 | |
特許 5774356 | プラズマ処理方法 | 2015年 9月 9日 | |
特許 5774428 | ドライエッチング方法およびプラズマエッチング装置 | 2015年 9月 9日 | |
特許 5774933 | ドライエッチング方法およびプラズマエッチング装置 | 2015年 9月 9日 | |
特許 5774994 | 検体検査自動化システム | 2015年 9月 9日 | |
特許 5775160 | 栓体開閉機構およびそれを備えた自動分析システム | 2015年 9月 9日 | |
特許 5775948 | 荷電粒子顕微鏡装置および画像撮像方法 | 2015年 9月 9日 | |
特許 5775949 | パターンマッチング用テンプレートの作成方法、及び画像処理装置 | 2015年 9月 9日 |
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5783953 5784796 5777967 5777984 5778053 5778777 5779482 5780761 5774356 5774428 5774933 5774994 5775160 5775948 5775949
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