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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第113位 383件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2026年10月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5825964 | 検査又は観察装置及び試料の検査又は観察方法 | 2015年12月 2日 | |
| 特許 5827545 | 分析方法および分析装置 | 2015年12月 2日 | |
| 特許 5823136 | 走査型荷電粒子顕微鏡及び試料観察方法 | 2015年11月25日 | |
| 特許 5822929 | 核酸分析装置 | 2015年11月25日 | |
| 特許 5822795 | プラズマ処理装置 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5822642 | 荷電粒子線装置及び試料加工・観察方法 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5822534 | 自動分析装置 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5819309 | 生体ポリマーの光学的解析装置及び方法 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5819243 | ドライエッチング方法 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5816291 | 生体分子分析方法及び生体分子分析装置 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5819154 | プラズマエッチング装置 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5813413 | シュリンク前形状推定方法およびＣＤ−ＳＥＭ装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813609 | 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813608 | 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813468 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線のランディング角度の計測補正方法 | 2015年11月17日 |
288 件中 16-30 件を表示
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5825964 5827545 5823136 5822929 5822795 5822642 5822534 5819309 5819243 5816291 5819154 5813413 5813609 5813608 5813468
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