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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2015年 出願公開件数ランキング    第107位 423件 下降2014年:第59位 659件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第95位 287件 下降2014年:第54位 625件)

(ランキング更新日:2021年3月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5826064 電子顕微鏡 2015年12月 2日
特許 5827545 分析方法および分析装置 2015年12月 2日
特許 5822929 核酸分析装置 2015年11月25日
特許 5823136 走査型荷電粒子顕微鏡及び試料観察方法 2015年11月25日
特許 5819309 生体ポリマーの光学的解析装置及び方法 2015年11月24日
特許 5822534 自動分析装置 2015年11月24日
特許 5822642 荷電粒子線装置及び試料加工・観察方法 2015年11月24日
特許 5822795 プラズマ処理装置 2015年11月24日
特許 5816291 生体分子分析方法及び生体分子分析装置 2015年11月18日
特許 5819154 プラズマエッチング装置 2015年11月18日
特許 5819243 ドライエッチング方法 2015年11月18日
特許 5812881 タンデム型質量分析装置及びその質量分析方法 2015年11月17日
特許 5813413 シュリンク前形状推定方法およびCD−SEM装置 2015年11月17日
特許 5813468 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線のランディング角度の計測補正方法 2015年11月17日
特許 5813574 プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 2015年11月17日

288 件中 16-30 件を表示

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5826064 5827545 5822929 5823136 5819309 5822534 5822642 5822795 5816291 5819154 5819243 5812881 5813413 5813468 5813574

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