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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5826064 | 電子顕微鏡 | 2015年12月 2日 | |
| 特許 5827545 | 分析方法および分析装置 | 2015年12月 2日 | |
| 特許 5822929 | 核酸分析装置 | 2015年11月25日 | |
| 特許 5823136 | 走査型荷電粒子顕微鏡及び試料観察方法 | 2015年11月25日 | |
| 特許 5819309 | 生体ポリマーの光学的解析装置及び方法 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5822534 | 自動分析装置 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5822642 | 荷電粒子線装置及び試料加工・観察方法 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5822795 | プラズマ処理装置 | 2015年11月24日 | |
| 特許 5816291 | 生体分子分析方法及び生体分子分析装置 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5819154 | プラズマエッチング装置 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5819243 | ドライエッチング方法 | 2015年11月18日 | |
| 特許 5812881 | タンデム型質量分析装置及びその質量分析方法 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813413 | シュリンク前形状推定方法およびＣＤ−ＳＥＭ装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813468 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線のランディング角度の計測補正方法 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813574 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2015年11月17日 |
288 件中 16-30 件を表示
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5826064 5827545 5822929 5823136 5819309 5822534 5822642 5822795 5816291 5819154 5819243 5812881 5813413 5813468 5813574
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