ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2015年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
(2014年:第59位 659件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
(2014年:第54位 625件)
(ランキング更新日:2025年7月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5826064 | 電子顕微鏡 | 2015年12月 2日 | |
特許 5827545 | 分析方法および分析装置 | 2015年12月 2日 | |
特許 5822929 | 核酸分析装置 | 2015年11月25日 | |
特許 5823136 | 走査型荷電粒子顕微鏡及び試料観察方法 | 2015年11月25日 | |
特許 5819309 | 生体ポリマーの光学的解析装置及び方法 | 2015年11月24日 | |
特許 5822534 | 自動分析装置 | 2015年11月24日 | |
特許 5822642 | 荷電粒子線装置及び試料加工・観察方法 | 2015年11月24日 | |
特許 5822795 | プラズマ処理装置 | 2015年11月24日 | |
特許 5816291 | 生体分子分析方法及び生体分子分析装置 | 2015年11月18日 | |
特許 5819154 | プラズマエッチング装置 | 2015年11月18日 | |
特許 5819243 | ドライエッチング方法 | 2015年11月18日 | |
特許 5812881 | タンデム型質量分析装置及びその質量分析方法 | 2015年11月17日 | |
特許 5813413 | シュリンク前形状推定方法およびCD−SEM装置 | 2015年11月17日 | |
特許 5813468 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線のランディング角度の計測補正方法 | 2015年11月17日 | |
特許 5813574 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2015年11月17日 |
288 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5826064 5827545 5822929 5823136 5819309 5822534 5822642 5822795 5816291 5819154 5819243 5812881 5813413 5813468 5813574
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
7月7日(月) -
7月8日(火) -
7月8日(火) - 東京 港区
7月9日(水) - 東京 品川区
7月9日(水) -
7月9日(水) -
7月9日(水) -
7月10日(木) -
7月10日(木) - 大阪 大阪市
ますます頼りにされる商標担当者になるための3つのポイント ~ 社内の商標相談にサクサクと答えられるエッセンスを教えます ~
7月11日(金) - 東京 千代田区
7月11日(金) -
7月11日(金) -
7月7日(月) -
〒063-0811 札幌市西区琴似1条4丁目3-18紀伊国屋ビル3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 コンサルティング
福岡市博多区博多駅前1-23-2-5F-B 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒330-0846 埼玉県さいたま市大宮区大門町3-205 ABCビル401 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング