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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5813608 | 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5813609 | 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5814663 | プラズマ処理方法及びゲートラスト方式のメタルゲートの製造方法 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5814741 | 走査電子顕微鏡 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5814855 | 荷電粒子線調整支援装置および方法 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5815119 | 荷電粒子線装置、試料観察システムおよび操作プログラム | 2015年11月17日 | |
| 特許 5815459 | プラズマエッチング方法 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5815798 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2015年11月17日 | |
| 特許 5809575 | 画像処理装置および方法と歪補正マップ作成装置および方法と半導体計測装置 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5809890 | イオンビーム装置 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5809935 | 走査透過電子顕微鏡、および試料観察方法 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5809997 | 半導体計測装置及びコンピュータープログラム | 2015年11月11日 | |
| 特許 5810031 | 半導体回路パターン計測装置及び方法 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5810181 | 試料の検査，測定方法、及び荷電粒子線装置 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5806095 | プラズマ処理装置 | 2015年11月10日 |
288 件中 31-45 件を表示
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5813608 5813609 5814663 5814741 5814855 5815119 5815459 5815798 5809575 5809890 5809935 5809997 5810031 5810181 5806095
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