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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2015年 出願公開件数ランキング    第107位 423件 下降2014年:第59位 659件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第95位 287件 下降2014年:第54位 625件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5813608 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 2015年11月17日
特許 5813609 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 2015年11月17日
特許 5814663 プラズマ処理方法及びゲートラスト方式のメタルゲートの製造方法 2015年11月17日
特許 5814741 走査電子顕微鏡 2015年11月17日
特許 5814855 荷電粒子線調整支援装置および方法 2015年11月17日
特許 5815119 荷電粒子線装置、試料観察システムおよび操作プログラム 2015年11月17日
特許 5815459 プラズマエッチング方法 2015年11月17日
特許 5815798 欠陥検査方法および欠陥検査装置 2015年11月17日
特許 5809575 画像処理装置および方法と歪補正マップ作成装置および方法と半導体計測装置 2015年11月11日
特許 5809890 イオンビーム装置 2015年11月11日
特許 5809935 走査透過電子顕微鏡、および試料観察方法 2015年11月11日
特許 5809997 半導体計測装置及びコンピュータープログラム 2015年11月11日
特許 5810031 半導体回路パターン計測装置及び方法 2015年11月11日
特許 5810181 試料の検査,測定方法、及び荷電粒子線装置 2015年11月11日
特許 5806095 プラズマ処理装置 2015年11月10日

288 件中 31-45 件を表示

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5813608 5813609 5814663 5814741 5814855 5815119 5815459 5815798 5809575 5809890 5809935 5809997 5810031 5810181 5806095

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