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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2015年 出願公開件数ランキング    第107位 423件 下降2014年:第59位 659件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第95位 287件 下降2014年:第54位 625件)

(ランキング更新日:2021年3月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5777747 自動分析装置 2015年 9月 9日
特許 5771456 質量分析方法 2015年 9月 2日
特許 5771458 質量分析装置及び質量分析方法 2015年 9月 2日
特許 5771561 欠陥検査方法および欠陥検査装置 2015年 9月 2日
特許 5771628 走査電子顕微鏡及びそれを用いた測長方法 2015年 9月 2日
特許 5771685 電子顕微鏡 2015年 9月 2日
特許 5771726 自動分析装置 2015年 9月 2日
特許 5771731 試料処理装置および試料処理方法に使用する反応容器 2015年 9月 2日
特許 5773939 欠陥検査装置および欠陥検査方法 2015年 9月 2日
特許 5764296 生体ポリマーの特性解析法 2015年 8月19日
特許 5764433 質量分析装置及び質量分析方法 2015年 8月19日
特許 5764444 走査電子顕微鏡 2015年 8月19日
特許 5766146 検測用パンタグラフ装置並びに架線検測方法及び装置 2015年 8月19日
特許 5766495 熱処理装置 2015年 8月19日
特許 5766800 自動分析システム 2015年 8月19日

288 件中 91-105 件を表示

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5777747 5771456 5771458 5771561 5771628 5771685 5771726 5771731 5773939 5764296 5764433 5764444 5766146 5766495 5766800

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