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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2021年3月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5777747 | 自動分析装置 | 2015年 9月 9日 | |
| 特許 5771456 | 質量分析方法 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5771458 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5771561 | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5771628 | 走査電子顕微鏡及びそれを用いた測長方法 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5771685 | 電子顕微鏡 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5771726 | 自動分析装置 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5771731 | 試料処理装置および試料処理方法に使用する反応容器 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5773939 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 2015年 9月 2日 | |
| 特許 5764296 | 生体ポリマーの特性解析法 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5764433 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5764444 | 走査電子顕微鏡 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5766146 | 検測用パンタグラフ装置並びに架線検測方法及び装置 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5766495 | 熱処理装置 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5766800 | 自動分析システム | 2015年 8月19日 |
288 件中 91-105 件を表示
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5777747 5771456 5771458 5771561 5771628 5771685 5771726 5771731 5773939 5764296 5764433 5764444 5766146 5766495 5766800
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