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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
（
2014年：第59位 659件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
（2014年：第54位 625件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5767163 | 画像処理システム、および画像処理方法 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5767772 | 核酸分析デバイス、及び核酸分析装置 | 2015年 8月19日 | |
| 特許 5761734 | 検体前処理装置および方法 | 2015年 8月12日 | |
| 特許 5761753 | 自動分析装置及びその動作不良判定方法 | 2015年 8月12日 | |
| 特許 5763238 | 自動分析装置 | 2015年 8月12日 | |
| 特許 5758728 | 荷電粒子線装置 | 2015年 8月 5日 | |
| 特許 5758861 | 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 | 2015年 8月 5日 | |
| 特許 5759036 | 質量分析装置 | 2015年 8月 5日 | |
| 特許 5759815 | 電子顕微鏡 | 2015年 8月 5日 | |
| 特許 5759818 | 核酸検査装置 | 2015年 8月 5日 | |
| 特許 5760066 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2015年 8月 5日 | |
| 特許 5750496 | プラズマ処理方法 | 2015年 7月22日 | |
| 特許 5751935 | 荷電粒子線装置及び試料作製方法 | 2015年 7月22日 | |
| 特許 5752545 | 自動分析装置 | 2015年 7月22日 | |
| 特許 5753792 | 自動分析装置 | 2015年 7月22日 |
288 件中 106-120 件を表示
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5767163 5767772 5761734 5761753 5763238 5758728 5758861 5759036 5759815 5759818 5760066 5750496 5751935 5752545 5753792
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