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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第259位 139件
（
2017年：第235位 177件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6329023 | 自動分析装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6329790 | プラズマ処理装置 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6329857 | プラズマ処理方法 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6330074 | 荷電粒子線装置、試料観察方法、試料台、観察システム、および発光部材 | 2018年 5月23日 | |
| 特許 6324241 | 荷電粒子線装置および収差補正器 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6324338 | 細胞診断支援装置、細胞診断支援方法、遠隔診断支援システム、及びサービス提供システム | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6324709 | 光計測装置及び光計測方法 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6320186 | 荷電粒子線応用装置 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6320535 | 自動分析装置 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6322711 | 細胞数濃度調整装置およびそれを用いた自動継代培養システム | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6322714 | 粒子吸引捕捉機構及び粒子吸引捕捉機構を備えた開栓装置 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6315732 | 質量分析装置 | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6316069 | 三次元形状変化検出方法、及び三次元形状加工装置 | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6316453 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置による観察方法 | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6316578 | 走査電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査電子顕微鏡 | 2018年 4月25日 |
248 件中 136-150 件を表示
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6329023 6329790 6329857 6330074 6324241 6324338 6324709 6320186 6320535 6322711 6322714 6315732 6316069 6316453 6316578
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