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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6317921 | プラズマ処理装置 | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6318007 | データ処理方法、データ処理装置および処理装置 | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6318027 | プラズマ処理装置 | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6312396 | イオン選択電極 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6312421 | 搬送ライン用カバー | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6312811 | クライオステーションシステム | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6313447 | マルチチャンネル分析装置，照射方法，及びマイクロチップ | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6313960 | 自動分析装置 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6313977 | 試料分析装置及び試料分析方法 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6313983 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6314148 | 自動分析装置 | 2018年 4月18日 | |
| 特許 6309734 | 生体分子計測装置 | 2018年 4月11日 | |
| 特許 6310676 | 電子線応用装置及びそれを用いた欠陥分類方法 | 2018年 4月11日 | |
| 特許 6310864 | 検査装置 | 2018年 4月11日 | |
| 特許 6310866 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法並びに解析方法 | 2018年 4月11日 |
248 件中 151-165 件を表示
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6317921 6318007 6318027 6312396 6312421 6312811 6313447 6313960 6313977 6313983 6314148 6309734 6310676 6310864 6310866
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