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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第177位 270件
(2018年:第194位 224件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第110位 254件
(2018年:第121位 246件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2019-211356 | パターン測定方法、パターン測定ツール、及びコンピュータ可読媒体 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-211372 | 自動分析装置および試料の搬送方法 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-212390 | イオン源、分析装置 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-212559 | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-207878 | イオンミリング装置、及びイオンミリング方法 | 2019年12月 5日 | |
特開 2019-203723 | 自動分析装置 | 2019年11月28日 | |
特開 2019-204618 | 走査型電子顕微鏡 | 2019年11月28日 | |
再表 2018-135384 | 自動分析装置 | 2019年11月21日 | |
再表 2018-146804 | 荷電粒子線装置 | 2019年11月21日 | |
再表 2018-150559 | 分析システム及び分析方法 | 2019年11月21日 | |
再表 2018-131102 | 荷電粒子線装置 | 2019年11月14日 | |
再表 2018-138874 | 荷電粒子線装置 | 2019年11月14日 | |
再表 2018-138875 | 荷電粒子線装置 | 2019年11月14日 | |
再表 2018-142944 | 自動分析装置 | 2019年11月14日 | |
再表 2018-155049 | 自動分析装置 | 2019年11月14日 |
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2019-211356 2019-211372 2019-212390 2019-212559 2019-207878 2019-203723 2019-204618 2018-135384 2018-146804 2018-150559 2018-131102 2018-138874 2018-138875 2018-142944 2018-155049
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6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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