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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
（
2019年：第177位 270件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
（2019年：第110位 254件）
（ランキング更新日：2025年9月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6727068 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2020年 7月22日 | |
| 特許 6727307 | 荷電粒子線装置 | 2020年 7月22日 | |
| 特許 6727311 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の収差補正方法 | 2020年 7月22日 | |
| 特許 6722620 | 細胞状態の解析装置および解析方法 | 2020年 7月15日 | |
| 特許 6725174 | 自動分析装置 | 2020年 7月15日 | |
| 特許 6725176 | プラズマエッチング方法 | 2020年 7月15日 | |
| 特許 6717938 | クロマトグラフ質量分析装置、及び制御方法 | 2020年 7月 8日 | |
| 特許 6718755 | 真空処理装置およびその運転方法 | 2020年 7月 8日 | |
| 特許 6718968 | 駆動ねじ装置、送液機構、及び送液方法 | 2020年 7月 8日 | |
| 特許 6719227 | 自動分析装置 | 2020年 7月 8日 | |
| 特許 6720383 | 遠赤外分光装置 | 2020年 7月 8日 | |
| 特許 6716026 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置における条件設定方法 | 2020年 7月 1日 | |
| 特許 6713185 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 | 2020年 6月24日 | |
| 特許 6714140 | 自動分析装置 | 2020年 6月24日 | |
| 特許 6714147 | 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置の調整方法 | 2020年 6月24日 |
224 件中 106-120 件を表示
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6727068 6727307 6727311 6722620 6725174 6725176 6717938 6718755 6718968 6719227 6720383 6716026 6713185 6714140 6714147
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