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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第126位 332件
（
2020年：第191位 225件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第118位 240件
（2020年：第127位 223件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6936921 | 分散制御システム、自動分析装置、および自動分析システム | 2021年 9月22日 | |
| 特許 6937254 | 検査システム、画像処理装置、および検査方法 | 2021年 9月22日 | |
| 特許 6937310 | 電子源および電子線照射装置 | 2021年 9月22日 | |
| 特許 6937392 | 空間位相変調した電子波の発生装置 | 2021年 9月22日 | |
| 特許 6937433 | 荷電粒子線装置の照射条件決定方法、及び荷電粒子線装置 | 2021年 9月22日 | |
| 特許 6938672 | プラズマ処理装置 | 2021年 9月22日 | |
| 特許 6935023 | 自動分析装置および洗浄方法 | 2021年 9月15日 | |
| 特許 6935598 | プラズマ処理装置およびウエハ処理方法 | 2021年 9月15日 | |
| 特許 6935599 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 | 2021年 9月15日 | |
| 特許 6935641 | システム、特定検査向け支援方法およびプログラム | 2021年 9月15日 | |
| 特許 6931653 | 検体検査自動化システム | 2021年 9月 8日 | |
| 特許 6931724 | 自動分析装置 | 2021年 9月 8日 | |
| 特許 6932050 | 走査電子顕微鏡 | 2021年 9月 8日 | |
| 特許 6927904 | 荷電粒子線装置 | 2021年 9月 1日 | |
| 特許 6928712 | 自動分析装置 | 2021年 9月 1日 |
241 件中 61-75 件を表示
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6936921 6937254 6937310 6937392 6937433 6938672 6935023 6935598 6935599 6935641 6931653 6931724 6932050 6927904 6928712
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