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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第126位 332件
（
2020年：第191位 225件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第118位 240件
（2020年：第127位 223件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6912968 | 分散制御装置、自動分析装置及び制御デバイスの計測方法 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6913060 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6913229 | 自動分析装置 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6913232 | 自動分析システム | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6914211 | プラズマ処理装置及び状態予測装置 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6914318 | プラズマ処理装置、データ処理装置およびデータ処理方法 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6914438 | スピン分析装置 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6908631 | 自動分析装置 | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6909224 | 自動分析装置及びリモート保守システム並びに保守方法 | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6909859 | 荷電粒子線装置 | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6909886 | 画像推定方法およびシステム | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6910560 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の運転方法 | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6911118 | 薄膜デバイス保管装置，保管方法及び生体分子計測方法 | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6904976 | 自動分析装置 | 2021年 7月21日 | |
| 特許 6905149 | 半導体製造装置 | 2021年 7月21日 |
241 件中 91-105 件を表示
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6912968 6913060 6913229 6913232 6914211 6914318 6914438 6908631 6909224 6909859 6909886 6910560 6911118 6904976 6905149
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