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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第2221位 9件
（
2024年：第927位 26件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1286位 15件
（2024年：第1169位 18件）
（ランキング更新日：2026年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2025-181308 | 粒子計測装置 | 2025年12月11日 | |
| 特開 2025-150509 | 半導体検出器 | 2025年10月 9日 | |
| 特開 2025-107735 | 試料容器及び熱分析装置 | 2025年 7月22日 | |
| 特開 2025-107736 | 試料容器及び熱分析装置 | 2025年 7月22日 | |
| 特開 2025-72964 | Ｘ線分析装置 | 2025年 5月12日 | |
| 特開 2025-72492 | 試料観察システム | 2025年 5月 9日 | |
| 特開 2025-63620 | クロマトグラフのデータ処理装置、データ処理方法、およびクロマトグラフ | 2025年 4月16日 | |
| 特開 2025-59660 | 粒子計測装置、粒子計測方法、反射率基準サンプル | 2025年 4月10日 | |
| 特開 2025-27196 | 熱分析装置 | 2025年 2月27日 |
9 件中 1-9 件を表示
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2025-181308 2025-150509 2025-107735 2025-107736 2025-72964 2025-72492 2025-63620 2025-59660 2025-27196
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