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レーザーテック株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1332位 19件
（
2013年：第1304位 22件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1176位 23件
（2013年：第1098位 25件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5470542 | 太陽電池評価方法及び太陽電池評価システム | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5441279 | リチウムイオン電池の観察方法、試験用リチウムイオン電池及びその製造方法 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5441077 | 観察用セル | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5419293 | 検査装置 | 2014年 2月19日 | |
| 特許 5403524 | 電池用電極材の厚さ測定装置、及び厚さ測定方法 | 2014年 1月29日 | |
| 特許 5387962 | 測定装置、及び測定方法 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5388078 | 解析装置及び解析方法 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5382826 | 直線駆動装置、可変シャッター装置、ビーム成形装置、ビーム照射装置、欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法本発明は、直線駆動装置、可変シャッター装置、ビーム成形装置、及びビーム照射装置、並びにビーム成形装置を用いた欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法に関する。 | 2014年 1月 8日 |
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5470542 5441279 5441077 5419293 5403524 5387962 5388078 5382826
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