日本電子株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第737位 41件
（
2013年：第742位 45件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第635位 50件
（
2013年：第494位 71件）
（ランキング更新日：2025年10月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5543912 | 質量分析装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5530664 | 電子顕微鏡 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530917 | 試料ホルダの排気方法及び装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5502622 | 電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5502612 | 荷電粒子ビーム装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5502595 | 球面収差補正装置および球面収差補正方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5502718 | 検体ホルダ搬送装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5502309 | 透過型電子顕微鏡 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5502407 | 共焦点ＳＴＥＭ像取得方法及び装置 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5492105 | 試料作製装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492032 | 走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491817 | 電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491763 | 線分析機能を備える電子線装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492115 | 電子顕微鏡用針状試料の作製方法 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5476087 | 荷電粒子線装置の物体位置決め装置 | 2014年 4月23日 |
50 件中 16-30 件を表示
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5543912 5530664 5530917 5502622 5502612 5502595 5502718 5502309 5502407 5492105 5492032 5491817 5491763 5492115 5476087
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