日本電子株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第544位 64件
（
2011年：第547位 66件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第485位 70件
（2011年：第532位 60件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5002273 | 試料検査装置及び試料検査方法 | 2012年 8月15日 | |
| 特許 5002331 | プラズマ発生装置 | 2012年 8月15日 | |
| 特許 4994125 | 透過電子顕微鏡の試料移動方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4994151 | 荷電粒子線装置 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4994119 | タンデム飛行時間型質量分析装置 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4994129 | 荷電粒子ビーム描画装置における近接効果補正演算方法及び装置 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4980628 | 自動遷移ボタンを用いたヒステリシス除去方法 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4980866 | 膜形成装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4980583 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4980794 | 荷電粒子ビーム装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4980869 | 電子ビーム装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4980829 | 電子ビーム描画装置のビーム位置補正方法及び装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4958740 | バーコード読み取り方法および装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4943641 | フィラメントアセンブリ及び電子銃並びに電子ビーム装置 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4943822 | 走査プローブ顕微鏡 | 2012年 5月30日 |
70 件中 31-45 件を表示
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5002273 5002331 4994125 4994151 4994119 4994129 4980628 4980866 4980583 4980794 4980869 4980829 4958740 4943641 4943822
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