日本電子株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第737位 41件
（
2013年：第742位 45件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第635位 50件
（
2013年：第494位 71件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5480126 | 信号処理方法、及び信号処理装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476115 | グリッドを用いた試料ホルダ | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476087 | 荷電粒子線装置の物体位置決め装置 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5476146 | 透過電子顕微鏡の制御装置および透過電子顕微鏡の制御方法 | 2014年 4月23日 | |
| 特許 5441856 | Ｘ線検出システム | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5436143 | 膜形成装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5430908 | 分光分析装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5430961 | 周期パターンの検出方法及び試料画像の撮影方法。 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5425482 | エネルギー分散型Ｘ線分光器による分析方法及びＸ線分析装置 | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5420289 | 電子顕微鏡の自動歪み測定方法 | 2014年 2月19日 | |
| 特許 5420452 | イオンビームを用いた試料断面作製装置及び作製方法 | 2014年 2月19日 | |
| 特許 5420491 | Ｘ線検出装置 | 2014年 2月19日 | |
| 特許 5412246 | 四重極質量分析装置におけるスペクトル信号補正方法 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5412222 | 粉末供給装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5400021 | 自動分析装置 | 2014年 1月29日 |
50 件中 31-45 件を表示
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5480126 5476115 5476087 5476146 5441856 5436143 5430908 5430961 5425482 5420289 5420452 5420491 5412246 5412222 5400021
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