日本電子株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第544位 64件
（
2011年：第547位 66件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第485位 70件
（2011年：第532位 60件）
（ランキング更新日：2025年2月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4874863 | ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874780 | 走査形電子顕微鏡 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874675 | 直流高電圧発生装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4851365 | イオンミーリング試料作製装置用マスクおよび試料作製装置 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851273 | 質量分析方法および質量分析装置 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851196 | 画像処理方法及び装置並びに画像処理プログラム | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851268 | 収差補正方法および電子線装置 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851263 | ビーム応用装置 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851148 | 電子顕微鏡 | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4851375 | 位相フィードバックＡＦＭの制御方法及び位相フィードバックＡＦＭ | 2012年 1月11日 |
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4874863 4874780 4874675 4851365 4851273 4851196 4851268 4851263 4851148 4851375
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特許ランキング
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
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2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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