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株式会社ニューフレアテクノロジー

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　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第464位　75件（2011年：第886位　31件）

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-195571	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2012年10月11日
特開 2012-191087	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法	2012年10月 4日
特開 2012-182222	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2012年 9月20日
特開 2012-182506	パタン作成方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2012年 9月20日
特開 2012-177650	パターン検査装置及びパターン検査方法	2012年 9月13日
特開 2012-178461	荷電粒子ビーム描画装置及び描画方法	2012年 9月13日
特開 2012-174812	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法	2012年 9月10日
特開 2012-174750	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2012年 9月10日
特開 2012-174780	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2012年 9月10日
特開 2012-173072	検査装置および検査方法	2012年 9月10日
特開 2012-169291	荷電粒子ビームのビーム強度分布測定方法及び荷電粒子ビーム装置	2012年 9月 6日
特開 2012-169543	半導体製造装置および半導体製造方法	2012年 9月 6日
特開 2012-169677	描画方法及び描画装置	2012年 9月 6日
特開 2012-164977	半導体製造装置および半導体製造方法	2012年 8月30日
特開 2012-160574	荷電粒子ビーム描画装置	2012年 8月23日

120 件中 31-45 件を表示

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2012-195571 2012-191087 2012-182222 2012-182506 2012-177650 2012-178461 2012-174812 2012-174750 2012-174780 2012-173072 2012-169291 2012-169543 2012-169677 2012-164977 2012-160574

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