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株式会社ニューフレアテクノロジー

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  2024年 出願公開件数ランキング    第688位 35件 下降2023年:第609位 49件)

  2024年 特許取得件数ランキング    第440位 57件 上昇2023年:第509位 54件)

(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2024-162872 パターン検査方法及びパターン検査装置 2024年11月21日
特開 2024-157150 マーク位置計測装置、荷電粒子ビーム描画装置、及びマーク位置計測方法 2024年11月 7日
特開 2024-157192 マルチ荷電粒子ビーム描画装置およびマルチ荷電粒子ビーム描画方法 2024年11月 7日
特開 2024-137016 パターン検査方法及びパターン検査装置 2024年10月 4日
特開 2024-132466 冷却板及び荷電粒子ビーム描画装置 2024年10月 1日
特開 2024-128847 マルチ2次電子ビームの位置合わせ方法 2024年 9月24日
特開 2024-121593 パターン検査装置 2024年 9月 6日
特開 2024-119099 検査装置の焦点位置調整方法及びパターン検査装置 2024年 9月 3日
特開 2024-119373 情報収集基板、基板処理装置、電子ビーム描画装置および電子ビーム描画装置の基板処理方法 2024年 9月 3日
特開 2024-102645 光軸制御機構、パターン検査装置、及び光軸調整方法 2024年 7月31日
特開 2024-93914 検査装置及び検査画像の生成方法 2024年 7月 9日
特開 2024-89039 電子線マスク検査装置 2024年 7月 3日
特開 2024-83066 位置計測装置、荷電粒子ビーム描画装置、及びマーク位置計測方法 2024年 6月20日
特開 2024-80072 ブランキングアパーチャアレイシステム及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 2024年 6月13日
特開 2024-80100 ヒータ寿命予測方法、加熱処理装置およびヒータ寿命予測プログラム 2024年 6月13日

37 件中 1-15 件を表示

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2024-162872 2024-157150 2024-157192 2024-137016 2024-132466 2024-128847 2024-121593 2024-119099 2024-119373 2024-102645 2024-93914 2024-89039 2024-83066 2024-80072 2024-80100

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