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株式会社ニューフレアテクノロジー

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  2022年 出願公開件数ランキング    第607位 36件 下降2021年:第595位 53件)

  2022年 特許取得件数ランキング    第434位 50件 上昇2021年:第483位 50件)

(ランキング更新日:2022年9月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7135637 マスク検査装置及びマスク検査方法 2022年 9月13日
特許 7130553 観察または測定装置、及び、観察または測定方法 2022年 9月 5日
特許 7126355 荷電粒子ビーム検査方法 2022年 8月26日
特許 7126367 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2022年 8月26日
特許 7124763 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 2022年 8月24日
特許 7119572 マルチ荷電粒子ビーム描画装置、マルチ荷電粒子ビーム描画装置用ブランキングアパーチャアレイ、マルチ荷電粒子ビーム描画装置の運用方法、及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 2022年 8月17日
特許 7119688 描画データ生成方法、プログラム、及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 2022年 8月17日
特許 7114337 ケーブル固定具及びケーブル固定具を備える移動ステージ装置 2022年 8月 8日
特許 7110831 マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 2022年 8月 2日
特許 7111496 パターン検査装置 2022年 8月 2日
特許 7106297 可変成形型荷電粒子ビーム照射装置及び可変成形型荷電粒子ビーム照射方法 2022年 7月26日
特許 7106299 電子ビーム検査装置及び電子ビーム走査のスキャン順序取得方法 2022年 7月26日
特許 7106353 マルチ荷電粒子ビーム検査装置及びマルチ荷電粒子ビーム検査方法 2022年 7月26日
特許 7095395 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2022年 7月 5日
特許 7094752 荷電粒子ビーム照射装置 2022年 7月 4日

52 件中 1-15 件を表示

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7135637 7130553 7126355 7126367 7124763 7119572 7119688 7114337 7110831 7111496 7106297 7106299 7106353 7095395 7094752

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