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株式会社ニューフレアテクノロジー

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  2012年 出願公開件数ランキング    第343位 120件 上昇2011年:第376位 103件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第464位 75件 上昇2011年:第886位 31件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2012-77924 除害装置および半導体製造装置 2012年 4月19日
特開 2012-72938 除害装置および半導体製造装置 2012年 4月12日
特開 2012-69676 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69623 半導体製造装置および半導体製造方法 2012年 4月 5日
特開 2012-68321 マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69752 EUVマスクの製造方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69661 荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69675 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69904 成膜装置および成膜方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69364 電子銃および電子銃を用いた電子ビーム描画装置 2012年 4月 5日
特開 2012-69667 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2012年 4月 5日
特開 2012-69668 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2012年 4月 5日
特開 2012-59984 マスク検査装置及び露光用マスク製造装置 2012年 3月22日
特開 2012-54361 荷電粒子ビーム描画装置およびその照射量補正方法 2012年 3月15日
特開 2012-54362 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2012年 3月15日

120 件中 76-90 件を表示

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2012-77924 2012-72938 2012-69676 2012-69623 2012-68321 2012-69752 2012-69661 2012-69675 2012-69904 2012-69364 2012-69667 2012-69668 2012-59984 2012-54361 2012-54362

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