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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第33位 878件 (2020年:第43位 773件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第45位 515件 (2020年:第54位 436件)
(ランキング更新日:2025年2月13日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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再表 2020-100829 | 基板処理装置及び基板処理装置の洗浄方法 | 2021年 9月27日 | |
再表 2020-105483 | 基板処理装置及び基板処理方法 | 2021年 9月27日 | |
再表 2021-39449 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147623 | 成膜方法および成膜装置 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147634 | 成膜装置及び基板処理方法 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147635 | クリーニング方法及び半導体装置の製造方法 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147691 | 半導体装置の製造方法及び基板処理システム | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147692 | 成膜方法及び半導体装置の製造方法 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147693 | 成膜装置 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-147700 | 原料供給システム | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-148496 | 原料供給装置 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-148726 | 光源、分光分析システム及び分光分析方法 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-148779 | 光干渉システム及び基板処理装置 | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-148791 | 膜厚測定システム、膜厚測定方法及びプログラム | 2021年 9月27日 | |
特開 2021-150056 | プラズマ処理装置 | 2021年 9月27日 |
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2020-100829 2020-105483 2021-39449 2021-147623 2021-147634 2021-147635 2021-147691 2021-147692 2021-147693 2021-147700 2021-148496 2021-148726 2021-148779 2021-148791 2021-150056
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2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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