株式会社堀場製作所
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第529位 63件
（
2014年：第533位 63件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第446位 57件
（2014年：第568位 60件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社堀場製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5728430 | 試験システム | 2015年 6月 3日 | |
| 特許 5728431 | 試験システム | 2015年 6月 3日 | |
| 特許 5718193 | 比較電極 | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5718276 | 試験システム | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5718277 | 試験システム | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5714977 | 光学測定装置 | 2015年 5月 7日 | |
| 特許 5704711 | 蛍光Ｘ線検出装置及び蛍光Ｘ線検出方法 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5706247 | トルク自動検量装置 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5703353 | ゼータ電位測定セル及びゼータ電位測定装置 | 2015年 4月15日 | |
| 特許 5697081 | 反応槽及びその反応槽を用いた測定装置 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5690514 | アゾキシストロビン誘導体、アゾキシストロビンに対する抗体またはそのフラグメント、ならびにそれらの抗体またはフラグメントを用いた測定キットおよび測定方法 | 2015年 3月25日 | |
| 特許 5684674 | 分析方法及び分析装置 | 2015年 3月18日 | |
| 特許 5684675 | 分析方法及び分析装置 | 2015年 3月18日 | |
| 特許 5677777 | 集光器装置 | 2015年 2月25日 | |
| 特許 5677892 | イオンセンサー装置及びイオンセンサー装置を備えたイオン濃度測定装置 | 2015年 2月25日 |
64 件中 46-60 件を表示
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5728430 5728431 5718193 5718276 5718277 5714977 5704711 5706247 5703353 5697081 5690514 5684674 5684675 5677777 5677892
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