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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2025-183178	スキャン方向の回転による帯電アーチファクトの軽減	2025年12月16日
特開 2025-181757	インライン電子ホログラフィにおける収差の補正	2025年12月11日
特開 2025-181755	基板領域の分類	2025年12月11日
特開 2025-181702	不均一なＤ字型集束イオンビーム	2025年12月11日
特表 2025-539337	電子顕微鏡法におけるフレームベースの歳差運動マッピング	2025年12月 5日
特開 2025-175044	荷電粒子システムのための電力消費の低減	2025年11月28日
特開 2025-174913	冷電界エミッタアセンブリ	2025年11月28日
特開 2025-172713	荷電粒子顕微鏡動作のための大規模言語モデル支援	2025年11月26日
特開 2025-172054	顕微鏡検査におけるビーム位置合わせ及び同期	2025年11月20日
特開 2025-172035	顕微鏡検査におけるビーム同期	2025年11月20日
特開 2025-172036	荷電粒子顕微鏡検査における発振器信号の時間的特性評価	2025年11月20日
特開 2025-172053	顕微鏡検査におけるビーム位置合わせ及び同期	2025年11月20日
特開 2025-170765	放射線感受性試料のドリフト補正	2025年11月19日
特開 2025-170220	物理的サンプルの微視的成分の分類	2025年11月18日
特開 2025-169931	荷電粒子顕微鏡用の電気的及び熱的接続ケーブル	2025年11月14日

66 件中 1-15 件を表示

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2025-183178 2025-181757 2025-181755 2025-181702 2025-539337 2025-175044 2025-174913 2025-172713 2025-172054 2025-172035 2025-172036 2025-172053 2025-170765 2025-170220 2025-169931

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