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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1542位 15件
（
2017年：第1793位 14件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第930位 22件
（2017年：第1003位 21件）
（ランキング更新日：2025年4月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6294216 | 電子検出が改善された荷電粒子顕微鏡 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294280 | 特殊な絞り板を備える荷電粒子顕微鏡 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6286270 | 透過型電子顕微鏡内で位相版を用いる方法 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286609 | 荷電粒子顕微鏡内での低温試料処理 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6279004 | 荷電粒子顕微鏡及びトモグラフィックイメージングのための方法 | 2018年 2月14日 | |
| 特許 6262453 | 粒子光学装置での薄片の調製及び可視化方法 | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6262543 | 蛍光顕微鏡による試料の観察方法 | 2018年 1月17日 |
22 件中 16-22 件を表示
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6294216 6294280 6286270 6286609 6279004 6262453 6262543
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