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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第649位 38件
（
2023年：第628位 47件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第866位 24件
（
2023年：第1177位 18件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-24615 | 電子撮像用途におけるセンサ保護のためのシステム | 2024年 2月22日 | |
| 特開 2024-23157 | ＳＥＭ用簡易球面収差補正器 | 2024年 2月21日 | |
| 特開 2024-23158 | 荷電粒子顕微鏡システム用の小型補正器モジュール及び荷電粒子システム | 2024年 2月21日 | |
| 特開 2024-23162 | 荷電粒子光学部品及びそれらの製作 | 2024年 2月21日 | |
| 特開 2024-22573 | 試料ホルダクランプ | 2024年 2月16日 | |
| 特開 2024-14836 | 荷電粒子顕微鏡を使用して試料を検査する方法 | 2024年 2月 1日 | |
| 特開 2024-2970 | 集束イオンビームシステム及び方法 | 2024年 1月11日 | |
| 特開 2024-1880 | 電子エミッタのためのマイクロロッドを生成する方法、並びに関連するマイクロロッド及び電子エミッタ | 2024年 1月10日 |
38 件中 31-38 件を表示
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2024-24615 2024-23157 2024-23158 2024-23162 2024-22573 2024-14836 2024-2970 2024-1880
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