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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-89653	高線量率における荷電粒子事象の検出	2024年 7月 3日
特開 2024-88618	電子顕微鏡撮像における改善された位相コントラストのための光キャビティを組み込んだ磁極片	2024年 7月 2日
特開 2024-86681	安全インターロックを備えたレーザ装置及びレーザ装置とともに使用する科学機器	2024年 6月27日
特開 2024-84725	ワイドバンドギャップ材料を含む荷電粒子センサ	2024年 6月25日
特開 2024-81738	顕微鏡画像のスマート計測	2024年 6月18日
特開 2024-81144	荷電粒子顕微鏡法を使用して試料を評価する方法	2024年 6月17日
特開 2024-79632	クライオ荷電粒子顕微鏡における分析のためのラメラを作成するために生体試料を微細加工する方法	2024年 6月11日
特開 2024-69161	ピクセル素子、それを含む粒子線顕微鏡、及び関連する方法	2024年 5月21日
特開 2024-68654	改善された冷却特性を有する極低温試料の調製方法	2024年 5月20日
特開 2024-59773	真空対応Ｘ線遮蔽体	2024年 5月 1日
特開 2024-56137	荷電粒子システムのための電力消費の低減	2024年 4月22日
特開 2024-52619	透過型電子顕微鏡のための自動データ取得方法	2024年 4月11日
特開 2024-52621	試料を移送するためのシステム及び方法	2024年 4月11日
特開 2024-35180	荷電粒子顕微鏡デバイスのアプリケーション管理	2024年 3月13日
特開 2024-35208	荷電粒子顕微鏡撮像のための自動選択及びモデル訓練	2024年 3月13日

38 件中 16-30 件を表示

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2024-89653 2024-88618 2024-86681 2024-84725 2024-81738 2024-81144 2024-79632 2024-69161 2024-68654 2024-59773 2024-56137 2024-52619 2024-52621 2024-35180 2024-35208

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