アンリツ株式会社
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第334位 97件
（
2023年：第310位 113件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第292位 106件
（2023年：第265位 129件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7508623 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2024年 7月 1日 | |
| 特許 7508624 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2024年 7月 1日 | |
| 特許 7508625 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2024年 7月 1日 | |
| 特許 7506568 | Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法 | 2024年 6月26日 | |
| 特許 7506704 | 測定装置、及び測定方法 | 2024年 6月26日 | |
| 特許 7504932 | 無線端末試験装置及び無線端末試験方法 | 2024年 6月24日 | |
| 特許 7500199 | 信号発生装置及び信号発生方法 | 2024年 6月17日 | |
| 特許 7500487 | Ｘ線検査装置 | 2024年 6月17日 | |
| 特許 7500807 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2024年 6月17日 | |
| 特許 7497316 | 周波数特性可変差動リニアアンプ | 2024年 6月10日 | |
| 特許 7497413 | クロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 | 2024年 6月10日 | |
| 特許 7493485 | 生産管理システム及び生産管理プログラム | 2024年 5月31日 | |
| 特許 7493541 | 検査装置 | 2024年 5月31日 | |
| 特許 7493547 | ニオイ検出装置 | 2024年 5月31日 | |
| 特許 7487261 | シールド構造 | 2024年 5月20日 |
106 件中 46-60 件を表示
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7508623 7508624 7508625 7506568 7506704 7504932 7500199 7500487 7500807 7497316 7497413 7493485 7493541 7493547 7487261
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