日本電子株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第499位 67件
（
2015年：第493位 68件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第600位 43件
（
2015年：第799位 27件）
（ランキング更新日：2025年12月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5948558 | 分光装置 | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5945159 | 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 | 2016年 7月 5日 | |
| 特許 5945205 | 試料分析装置 | 2016年 7月 5日 | |
| 特許 5934513 | 透過電子顕微鏡 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5934517 | 色収差補正装置及び色収差補正装置の制御方法 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5934521 | 試料解析装置 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5921386 | 電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5912835 | 電子銃、その駆動装置、およびその制御方法 | 2016年 4月27日 | |
| 特許 5904326 | ＮＭＲ装置のセットアップ方法 | 2016年 4月13日 | |
| 特許 5896870 | 走査電子顕微鏡 | 2016年 3月30日 | |
| 特許 5889117 | 電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5851218 | 試料解析装置 | 2016年 2月 3日 | |
| 特許 5851256 | 電子線装置 | 2016年 2月 3日 | |
| 特許 5851318 | 試料保持装置および試料解析装置 | 2016年 2月 3日 | |
| 特許 5842308 | 複合顕微鏡装置 | 2016年 1月13日 |
45 件中 31-45 件を表示
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5948558 5945159 5945205 5934513 5934517 5934521 5921386 5912835 5904326 5896870 5889117 5851218 5851256 5851318 5842308
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