日本電子株式会社
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第499位 67件
（
2015年：第493位 68件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第600位 43件
（
2015年：第799位 27件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6009975 | 放射線検出装置および試料分析装置 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6009980 | ホルダー、荷電粒子線装置、および真空装置 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6009981 | 荷電粒子ビーム偏向装置 | 2016年10月19日 | |
| 特許 6007438 | 寒剤供給装置 | 2016年10月12日 | |
| 特許 5999599 | プローブ | 2016年 9月28日 | |
| 特許 5993677 | 飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5993678 | マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法 | 2016年 9月14日 | |
| 特許 5978075 | 試料観察方法および電子顕微鏡 | 2016年 8月24日 | |
| 特許 5972651 | 飛行時間型質量分析計 | 2016年 8月17日 | |
| 特許 5972662 | タンデム飛行時間型質量分析計 | 2016年 8月17日 | |
| 特許 5972677 | 電子顕微鏡の調整方法及び電子顕微鏡 | 2016年 8月17日 | |
| 特許 5959258 | 質量分析装置のデータ記録装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5959320 | 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5959409 | 成膜装置及び成膜装置の動作方法 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5953633 | ＮＭＲ測定用スピナ | 2016年 7月20日 |
45 件中 16-30 件を表示
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6009975 6009980 6009981 6007438 5999599 5993677 5993678 5978075 5972651 5972662 5972677 5959258 5959320 5959409 5953633
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