日本電子株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第450位 75件
（
2019年：第365位 105件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第420位 61件
（
2019年：第477位 50件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6699044 | 染色方法および観察方法 | 2020年 5月27日 | |
| 特許 6697187 | 固体ＮＭＲ装置及びマジック角調整方法 | 2020年 5月20日 | |
| 特許 6689090 | 自動分析装置 | 2020年 4月28日 | |
| 特許 6689607 | クライオ観察用試料作製方法 | 2020年 4月28日 | |
| 特許 6677519 | 電子顕微鏡および収差測定方法 | 2020年 4月 8日 | |
| 特許 6677571 | 電子分光装置および測定方法 | 2020年 4月 8日 | |
| 特許 6677573 | 磁気共鳴信号検出モジュール | 2020年 4月 8日 | |
| 特許 6677745 | 磁気結合の高分解能核磁気共鳴プローブおよび使用法 | 2020年 4月 8日 | |
| 特許 6668050 | 薄膜試料加工方法 | 2020年 3月18日 | |
| 特許 6668187 | 質量分析データ解析方法 | 2020年 3月18日 | |
| 特許 6668188 | 質量分析方法 | 2020年 3月18日 | |
| 特許 6660787 | 電子顕微鏡および収差補正方法 | 2020年 3月11日 | |
| 特許 6660840 | 自動分析装置及びプログラム | 2020年 3月11日 | |
| 特許 6660842 | 緩和時間測定方法及び磁気共鳴測定装置 | 2020年 3月11日 | |
| 特許 6660844 | 自動分析装置及びプログラム | 2020年 3月11日 |
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6699044 6697187 6689090 6689607 6677519 6677571 6677573 6677745 6668050 6668187 6668188 6660787 6660840 6660842 6660844
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