日本電子株式会社
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第463位 68件
（
2022年：第372位 91件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第390位 78件
（2022年：第298位 101件）
（ランキング更新日：2025年12月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7250054 | 分析装置および画像処理方法 | 2023年 3月31日 | |
| 特許 7250055 | 推定モデル作成方法及び電子顕微鏡 | 2023年 3月31日 | |
| 特許 7245644 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2023年 3月24日 | |
| 特許 7245885 | Ｘ線検出装置及び方法 | 2023年 3月24日 | |
| 特許 7229806 | 観察方法 | 2023年 2月28日 | |
| 特許 7229886 | 荷電粒子線装置 | 2023年 2月28日 | |
| 特許 7229975 | 自動分析装置および保冷庫 | 2023年 2月28日 | |
| 特許 7229977 | ３次元積層造形装置及び３次元積層造形方法。 | 2023年 2月28日 | |
| 特許 7217140 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7217188 | 三次元積層造形装置及び三次元積層造形方法 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7217298 | 試料ホルダーおよび荷電粒子線装置 | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7207952 | 評価方法および荷電粒子ビーム装置 | 2023年 1月18日 | |
| 特許 7208195 | イオンミリング装置および試料ホルダー | 2023年 1月18日 | |
| 特許 7208212 | 透過電子顕微鏡および光学系の調整方法 | 2023年 1月18日 | |
| 特許 7208271 | 試料導入方法および荷電粒子線装置 | 2023年 1月18日 |
82 件中 61-75 件を表示
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7250054 7250055 7245644 7245885 7229806 7229886 7229975 7229977 7217140 7217188 7217298 7207952 7208195 7208212 7208271
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