日本電子株式会社
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第463位 68件
（
2022年：第372位 91件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第390位 78件
（2022年：第298位 101件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7312694 | 分析システム及び分析方法 | 2023年 7月21日 | |
| 特許 7312777 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2023年 7月21日 | |
| 特許 7312778 | 試料加工装置の調整方法および試料加工装置 | 2023年 7月21日 | |
| 特許 7307642 | ＮＭＲプローブ搬送装置及びＮＭＲ測定システム | 2023年 7月12日 | |
| 特許 7307753 | 三次元積層造形装置 | 2023年 7月12日 | |
| 特許 7307761 | スペクトル解析装置 | 2023年 7月12日 | |
| 特許 7307762 | 電子顕微鏡及び試料汚染防止方法 | 2023年 7月12日 | |
| 特許 7307768 | 走査電子顕微鏡および対物レンズ | 2023年 7月12日 | |
| 特許 7307770 | 分析装置および画像処理方法 | 2023年 7月12日 | |
| 特許 7306631 | 粒子解析方法、機械学習装置、粒子解析装置、および粒子解析システム | 2023年 7月11日 | |
| 特許 7306636 | ＮＭＲ測定プローブ | 2023年 7月11日 | |
| 特許 7306639 | Ｘ線スペクトル解析装置及び方法 | 2023年 7月11日 | |
| 特許 7285769 | 恒温恒湿装置 | 2023年 6月 2日 | |
| 特許 7285863 | 荷電粒子線装置 | 2023年 6月 2日 | |
| 特許 7285871 | 走査透過電子顕微鏡および光学系の調整方法 | 2023年 6月 2日 |
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7312694 7312777 7312778 7307642 7307753 7307761 7307762 7307768 7307770 7306631 7306636 7306639 7285769 7285863 7285871
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