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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-91633	被試験デバイス試験方法及び試験測定システム	2024年 7月 5日
特表 2024-522569	シーケンシャル試験用マルチ入力リモート・ヘッド	2024年 6月21日
特表 2024-522784	マルチ・サンプル・レート・データ・コンバータ	2024年 6月21日
特表 2024-522888	回転子の位置を用いたＤＱ０合成駆動ベクトルを計算するためのシステム及び方法	2024年 6月21日
特開 2024-80684	機械学習管理システム及び機械学習システムの管理方法	2024年 6月13日
特開 2024-75562	試験システム及びコンポーネント間の相互運用性試験方法	2024年 6月 4日
特開 2024-74289	試験測定装置及び試験測定のための機械学習の利用方法	2024年 5月30日
特開 2024-59588	製造システム及び製造システムで使用される方法	2024年 5月 1日
特開 2024-54857	試験測定装置及びノイズ測定値生成方法	2024年 4月17日
特開 2024-54859	ケーブル・アセンブリ	2024年 4月17日
特表 2024-514321	高精度、高帯域幅スイッチング・アッテネータ関連アプリケーション	2024年 4月 1日
特開 2024-40140	シャント抵抗器及びモジュラ・チップ相互接続部	2024年 3月25日
特表 2024-511061	ノイズ補正ジッタ測定装置及び方法	2024年 3月12日
特表 2024-508467	試験測定システム	2024年 2月27日
特開 2024-22567	試験測定装置及び出力電荷量を求める方法	2024年 2月16日

41 件中 16-30 件を表示

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2024-91633 2024-522569 2024-522784 2024-522888 2024-80684 2024-75562 2024-74289 2024-59588 2024-54857 2024-54859 2024-514321 2024-40140 2024-511061 2024-508467 2024-22567

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